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Software

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제품소개
product name BM Inspector
Detail
概要
BMInspector, 使用自动化的显微镜和 Robot, Macro 检查机, XY Stage检查半导体 Wafer
 Macro 检查 与 前面/后面 Defect 检查的设备. 通过Defect 自动检查设备上获得的结果文档进行
 DefectReview也可以生成SMF 文档与AVI文档进行 Wafer 的扣除等功能的软件.
功能简介
控制显微镜
控制Auto Loader
控制X, Y Stage
在实时影像上的各种测量功能
Defect Review 功能
Wafer 扣除功能